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脉冲群测试仪进行试验失败的原因分析
发布时间:2022-09-13   点击次数:1079次
  不同的电子、电气产品标准对脉冲群测试仪的要求是不同的,但这些标准关于EFT抗扰度试验大多都直接或间接引用GB/T17626.4这一电磁兼容基础标准,并按其中的试验方法进行试验。
  
  但是在脉冲群试验(EFT)过程中,我们难免会遇到失败的时候,那么造成失败的原因有哪些呢?今天AS电玩电子就来说明一下。
  
  脉冲群测试仪失败的原因分析:
  
  对电源线通过耦合/去耦网络施加EFT干扰时,信号发生器输出的一端通过33nF的电容注入到被测电源线上,另外一端通过耦合单元的接地端子与大地相连。
  
  对信号/控制线通过容性耦合夹施加EFT干扰时,信号发生器输出通过耦合板与受试电缆之间的分布电容进入受试电缆,而受试电缆所接收到的脉冲是相对接地板而言的。这两种干扰注入方式都是对大地的共模注入方式。因此,所有的差模抑制方法对此类干扰无能为力。
                                                                         脉冲群测试仪
  脉冲群的单个脉冲波形前沿tr达到5ns,脉宽达到50ns,这就注定了脉冲群干扰具有丰富的谐波成分。幅度较大的谐波频率至少可以达到1/πtr,亦即可以达到64MHz左右,相应的波长为5m。
  
  对于一根载有60MHz以上频率的电源线来说,如果长度为1M,由于导线长度已经可以和信号的波长可比,不能再以普通传输线来考虑,信号在线上的传输过程中,部分依然可以通过传输线进入受试设备(传导发射),部分要从线上逸出,成为辐射信号进入受试设备(辐射发射)。
  
  因此,脉冲群测试仪受到的干扰实际上就是传导与辐射的结合。很明显,传导和辐射的比例和电源线长度相关,线路越短,传导成分越多,而辐射比例越小;反之辐射比例就大。单纯对EFT干扰施加端口采取传导干扰抑制(例如加滤波器)方式无法完全克服此类干扰的影响。

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